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Dünne Schichten auf Metall

Gerichtete Reflexion

Gerichtete Reflexion

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Zur Charakterisierung von Oberflächenschichten von ca. 0,2 bis 20 µm hat sich eine Methode
etabliert, die als Reflexions-Absorption oder Transflexion bezeichnet wird. Voraussetzung ist, daß
sich die Schicht auf einem metallischen Grundkörper mit glatter, reflektierender Oberfläche befindet (z.B. Lacke, polymere Schutzüberzüge, Epitaxieschichten etc.). Der IR-Strahl wird unter einem Winkel von 10° bis 45° auf die Probe geleitet, durchdringt die Schicht, wird an der metallischen Grenzfläche reflektiert und durchläuft die Schicht ein zweites mal. Als Ergebnis erhält man echte Transmissions- spektren.

Mit einem einfachen Trick lassen sich auch dünne Folien und Membranen sowie Klebstoffe und
Epoxy-Harze mittels Reflexions-Absorptionsmethoden untersuchen. Im Falle der Folie wird diese einfach mit einem Gold- oder Aluminiumspiegel hinterlegt. Bei Klebstoffen nimmt man einen Objektträger aus Glas, der mit Aluminiumfolie gleichmäßig bespannt ist. Hierauf wird der Klebstoff
in dünner Schicht aufgetragen.

Der Standard-Meßzusatz PIKE 30spec verfügt über einen Einfallswinkel von 30°. Für spezielle Fälle,
in denen ein nahezu senkrechter Lichteinfall mit unendlicher Abbildung am Probenort benötigt wird,
ist ein Meßzusatz mit 10° (10spec) erhältlich. Der VeeMax Meßzusatz ist für universelle Einsätze ausgelegt. Mit ihm kann der Einfallswinkel kontinuierlich von 30° bis 80° eingestellt und für spezielle Aufgaben können zusätzlich Polarisatoren montiert werden.

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