Sortiert nach Probenart

Dünne Schichten auf Nichtmetall

ATR

ATR

Zu den dünnen Schichten auf Nichtmetallen zählen z.B. Aromaschutzfolien, Laminatschichten, Halbleiterschichten, molekulare Abscheidungen direkt auf
ATR-Kristallen usw. Einfache Systeme, z.B. fluorierte Polymer-Oberflächen, werden mit der PIKE HATR untersucht. Komplexere Schichtabfolgen im Bereich von einigen wenigen Mikrometern sowie Schichten, die dünner als
1 µm sind, lassen sich optimal mit der PIKE ATRMax, einer horizontalen ATR mit präzise einstellbarem Einfallswinkel, analysieren. Zusammen mit einem geeigneten Kristallmaterial können verschiedene Eindringtiefen der IR-Strahlung in die Probe erzeugt werden: je kleiner der gewählte Einfallswinkel, desto größer die Eindringtiefe des IR-Strahls.

Neben den beiden klassischen Probenaufnahme-Systemen "Platte" (für Festkörper) und "Mulde"
(oder "Wanne", für flüssige Proben) steht eine dritte Möglichkeit zur Auswahl: das RC-System. Während beim Platten- und Muldensystem der ATR-Kristall mechanisch fest in einem Metallrahmen eingespannt ist, wird beim RC-System der separat einzusetzende Kristall in seinem Rahmen durch eine einfache Klemmhalterung in Position gehalten. Dadurch kann er jederzeit leicht vom Rahmen entfernt werden, um beispielsweise Beschichtungen direkt auf dem ATR-Kristall aufzutragen. Gegenüber der VATR hat das RC-System den Vorteil, daß der trapezförmige ATR-Kristall nicht an seinen beiden Hauptflächen gehalten wird, vielmehr ausschließlich an den Kanten der beiden seitlichen Flächen. Damit wird gewährleistet, daß die Beschichtung durch die Kristallhalterung nicht beschädigt wird.

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